ADI微機電加速度計實現結構缺陷的早期偵測

台北2016年10月4日電 /美通社/ -- Analog Devices, Inc. (ADI) 亞德諾半導體公司宣布一款三軸微機電 (MEMS) 加速度計，以極低雜訊進行高解析度振動測量，實現經由無線感測器網路的早期結構缺陷偵測。新的 ADXL354 和 ADXL355 加速度計的低功耗，延長了電池壽命，並藉由減少更換電池的時間以延長產品的使用。低功耗的 ADXL354 及 ADXL355 的低雜訊性能表現，使其現在實現低位準的振動測量如結構安全監控 (SHM) 的應用方案更具成本效益。此外，ADXL354 和 ADXL355 加速度計的傾斜穩定性提供溫度和時間上的絕佳重複性，對於在無人機的定位和導航系統上使用慣性測量單元（IMU 產品）及傾斜儀，這是理想的方案。藉由在所有條件下提供重複的傾斜測量，該新款加速度計能夠在惡劣環境中無需大規模的校準就能實現最小傾斜誤差。

ADI微機電加速度計實現結構缺陷的早期偵測

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ADXL354 和 ADXL355 加速度計提供保證的溫度穩定性與 0.15mg/ C（较大值）零偏移係數。此穩定性讓與校準和測試結果相關的資源和費用最小化，幫助元件 OEM 廠商達成更高的產出量。另外，陶瓷封裝有助於確保終端產品在出廠後能更長期的符合重複性和穩定性規格。

具備 ±2g 至 ±8g 滿刻度範圍 (FSR) 的輸出、小於 200 微安電流消耗下範圍從 1Hz 至 1kHz 的可選式數位濾波及每 25 微安/ sqrt(Hz) 的低雜訊密度，ADXL354 和 ADXL355 加速度計提供的性能水準與更加昂貴的元件相較，具備更低的功耗和物料 (BOM) 成本。

產品價格與供貨時程

關於 ADI 公司

Analog Devices, Inc.（簡稱 ADI）始終致力於設計與製造先進的半導體產品和優秀的解決方案，憑藉傑出的感測、測量和連接技術，搭建連接真實世界和數位世界的智慧化橋樑，從而協助客戶重新認識周圍的世界。詳情請瀏覽 ADI 官網 http://www.analog.com/

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